为什么要使用 3D AOI ？

在智能制造的浪潮下，电子制造工艺越发精密，3D视觉技术逐渐地被应用在视觉检测领域，辅助设备进行高精度缺陷检测，弥补2D视觉在高度、体积等方面的测量局限性。随着电子产品向微型化和高集成方向发展，芯片外观检测面临新的挑战。传统的2D检测已无法满足识别细小而隐蔽的缺陷检测需求。2D AOI 无法测量高度信息的局限性，面对 IC引脚翘脚、器件浮高等缺陷容易漏报，不良的漏失会带来严重的后果。

目前，越来越多的客户想获取3D AOI检验技术，特别是能够测量组件高度的技术。以前，检测缺陷都是基于2D技术，但现在已经转向3D了。3D已经成为这个行业的标准。

用3D AOI可以测量高度获得数据，并且根据该数据设置公差。超出这个公差就判有缺陷，在公差范围之内则是合格。我们可以利用这些测量数据。这是非常有用的大数据，其中包括产量信息和偏移量等等。通过这些测量数据，您可以优化和改进工艺，最终达到非常高的生产力。这是使用3D AOI的关键因素。

如今的劳动力成本在不断增加，客户应该考虑使用3D AOI系统，并且不会有太多的误报，这样就能使他们的工作变得更简单更轻松。